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Edison功率模块动态特性测试系统，主要用于不同封装功率模块的动态参数特性测试，可兼顾电控单元以及To247单管的动态测试。可以同时完成单脉冲、双脉冲以及短路测试等用户指定测试条目。 Edison支持用户进行远程测试（需配VPN软件及设备联网），并可实时保存测试结果及波形数据。帮助客户快速评估器件性能，更快应对市场需求改善产品性能。
半导体器件的高速和低电流要求高质量、高性能的 I-V 和 C-V 信号开关。 我们为半导体研发和生产测试应用提供开关解决方案，其中主机可以支持多达 2,880 个通道以及专为半导体应用而设计的一系列矩阵卡。
当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）要求进行参数测试，以便大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及大限度降低测试成本。40 多年来，吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战，这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类（例如，晶片验收或已知的良好芯片测试），以及可靠性
开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
致力于为客户提供专业、方便、快捷的本地化服务。
