EPMA-8050G-电子探针系列

优越的空间分辨率

使用分析条件束流，引以为傲的二次电子图像分辨率。（加速电压10kV时，20nm@10nA//50nm@100nA/150nm@1μA）。与原来的电子枪（CeB6、钨灯丝）的结果相比，一目了然。

由于可用更大的束流得到与原来电子枪相同分辨率的图像，所以可进行更高灵敏度的X射线分析。 更加值得注意的是，束流为1μA时的SEM图像。能够得到1μA以上束流，而且可以压缩到如此细的岛津产品只有EPMA-8050G。

各种电子枪产生电子束的特性比较（加速电压10kV）

大束流更高灵敏度分析

场发射类型的SEM、EPMA可实现其他仪器所不能达到的大束流（加速电压30kV时可达3μA）。在超微量元素的检测灵敏度上实现了质的飞跃，将元素面分析时超微量元素成分分布的可视化成为现实。而且，所有束流范围内不需要更换物镜光阑，完全不用担心合轴，实现了高度自动化分析。

面的3个图像为不同束流下，对不锈钢中约1%左右Si进行面分析的结果※。束流越大，偏差越小，越能更加清楚的确认包含Si的范围。

※ 分析条件：加速电压10kV，积分时间50msec。分析花费时间约1小时。

全部分析操作简单易懂

全部操作仅需一个鼠标可实现的先进可操作性、追求「易懂」的人性化用户界面、搭载导航模式等多个新功能，将「简单易懂操作」成为现实。无论是初学者还是专家级用户都可进行得心应手的操作分析。

● 从样品导入到生成分析报告，操作方便。　
● 即便是第一次使用也可轻松进行样品定位SEM观察。
● 优越的可操控性，大大提高分析准备工作的效率。
● 视觉上追求「易懂」的人性化用户界面。
● 搭载导航模式，自动指引直至生成分析报告。