EDX-8100-能量色散型X射线荧光光谱仪

X射线荧光分析法的原理·特点

先进的分析性能

采用高性能的SDD检测器，确保硬件更佳化，具有业内闻名的高灵敏度·高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8100）。

高灵敏度 –提高检测下限1.5～5倍-

高性能的SDD检测器与更佳化的光学系统和一次滤光片的组合，实现业内闻名的高灵敏度。
从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。

高速 –分析速度最大可提高10倍-

SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到更大限度的发挥。

无需液氮

SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。

检测元素范围

· 用EDX-8100进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。

准直器和一次滤光片自由组合

准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。
同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。